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Fischer XDAL237 X射線熒光測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測量空間寬大，可以用于測量復雜幾何形狀的各種樣品。馬達驅(qū)動可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置*高可達140mm高度的樣品。C型槽設計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。測量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺，因而可以方便地按照預定程序掃描檢查樣品表面

菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型儀器配備了感應區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器，這樣在使用大準直器的情況下，可以達到很高的計數(shù)率，從而實現(xiàn)良好的重復精度和很低的檢測下限。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測量。

X-RAY XUL/XULM電鍍或電子元件鍍層測厚儀 在電鍍或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且準確地測定鍍層厚度時，XUL® 系列測量儀器是您的*選解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進行測量，能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測器。您可以根據(jù)自己的測量需求選擇不同的準直器、濾波器以及 X 射線管。